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早期的電路故障診斷方法主要依靠一些簡(jiǎn)單工具進(jìn)行測(cè)試診斷，它極大地依賴于**或技術(shù)人員的理論知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)。在這些測(cè)試方法中，常用的主要有四類：虛擬測(cè)試、功能測(cè)試、結(jié)構(gòu)測(cè)試和缺陷故障測(cè)試。虛擬測(cè)試不需要檢測(cè)實(shí)際芯片，而只測(cè)試仿真的芯片，適用于在芯片制造前進(jìn)行。它能及時(shí)檢測(cè)出芯片設(shè)計(jì)上的故障，但它并未考慮芯片在實(shí)際的制造和運(yùn)行中的噪聲或差異。功能測(cè)試依據(jù)芯片在測(cè)試中能否完成預(yù)期的功能來(lái)判定芯片是否存在故障。這種方法容易實(shí)施但無(wú)法檢測(cè)出非功能性影響的故障。結(jié)構(gòu)測(cè)試是對(duì)內(nèi)建測(cè)試的改進(jìn)，它結(jié)合了掃描技術(shù)，多用于對(duì)生產(chǎn)出來(lái)的芯片進(jìn)行故障檢驗(yàn)。缺陷故障測(cè)試基于實(shí)際生產(chǎn)完成的芯片，通過(guò)檢驗(yàn)芯片的生產(chǎn)工藝質(zhì)量來(lái)發(fā)現(xiàn)是否包含故障。缺陷故障測(cè)試對(duì)專業(yè)技術(shù)人員的知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)都要求很高。芯片廠商通常會(huì)將這四種測(cè)試技術(shù)相結(jié)合，以保障集成電路芯片從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)再到應(yīng)用整個(gè)流程的可靠性和安全性。然而，對(duì)于日趨復(fù)雜的電路系統(tǒng)，這些早期方法越發(fā)顯得捉襟見(jiàn)肘。經(jīng)過(guò)不斷的改進(jìn)和創(chuàng)新，許多新的思想和方法相繼問(wèn)世。揭陽(yáng)回收IC報(bào)價(jià)新安正泰回收舊電子芯片IC，歡迎新老客戶來(lái)電！

    隨著芯片熱流密度越來(lái)越大，傳統(tǒng)的風(fēng)冷已不能滿足散熱要求。概述了7種具有應(yīng)用前景的芯片散熱技術(shù)，介紹了各種散熱技術(shù)的工作原理、優(yōu)缺點(diǎn)、適用場(chǎng)合、研究現(xiàn)狀及所存在的關(guān)鍵問(wèn)題，對(duì)電子芯片散熱技術(shù)進(jìn)行了總結(jié)和展望。隨著電子芯片性能的提升和尺寸的微型化，芯片呈現(xiàn)出越來(lái)越高的熱流密度。據(jù)預(yù)測(cè)，芯片的平均熱流密度將達(dá)到500W/cm2，局部熱點(diǎn)熱流密度將會(huì)超過(guò)1000W/cm2，而傳統(tǒng)風(fēng)冷散熱已經(jīng)達(dá)到極限(＜1W/cm2)。而芯片溫度的控制至關(guān)重要，對(duì)于穩(wěn)定持續(xù)工作的電子芯片，最高溫度不能超過(guò)85℃，溫度過(guò)高會(huì)導(dǎo)致芯片損壞，研究表明，在70～80℃內(nèi)，單個(gè)電子元件的溫度每升高10℃，系統(tǒng)可靠性降低50%。據(jù)統(tǒng)計(jì)，有超過(guò)55%的電子設(shè)備失效形式都是溫度過(guò)高引起的。因此，為保證芯片工作的可靠性和穩(wěn)定性，發(fā)展新型高效的散熱技術(shù)成為迫切需求。

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電壓診斷出現(xiàn)較早且運(yùn)用較廣。電壓測(cè)試的觀測(cè)信息是被測(cè)電路的邏輯輸出值。此方法通過(guò)對(duì)電路輸入不同的測(cè)試向量得到對(duì)應(yīng)電路的邏輯輸出值，然后將采集的電路邏輯輸出值與該輸入向量對(duì)應(yīng)的電路預(yù)期邏輯輸出值進(jìn)行對(duì)比，來(lái)達(dá)到檢測(cè)電路在實(shí)際運(yùn)行環(huán)境中能否實(shí)現(xiàn)預(yù)期邏輯功能的目的。此方法簡(jiǎn)單卻并不適用于冗余較多的大規(guī)模的集成電路。若缺陷出現(xiàn)在冗余部分就無(wú)法被檢測(cè)出來(lái)。而且當(dāng)電路規(guī)模較大時(shí)，測(cè)試向量集也會(huì)成倍增長(zhǎng)，這會(huì)直接導(dǎo)致測(cè)試向量的生成難且診斷效率低下等問(wèn)題。此外，如果故障只影響電路性能而非電路邏輯功能時(shí)，電壓診斷也無(wú)法檢測(cè)出來(lái)。由于集成電路輸出的電壓邏輯值并不一定與電路中的所有節(jié)點(diǎn)相關(guān)，電壓測(cè)試并不能檢測(cè)出集成電路的非功能失效故障。于是，在 80 年代早期，基于集成電路電源電流的診斷技術(shù)便被提出。新安正泰致力于回收舊電子芯片IC，有想法的可以來(lái)電咨詢！陽(yáng)江回收電子料IC市場(chǎng)價(jià)格

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